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產品分類 / PRODUCT
更新時間：2026-08-05 
瀏覽次數：76功率半導體器件動態脈沖測試是工業測試設備重要方向，MOSFET、IGBT、晶閘管、高壓二極管、壓敏電阻、陶瓷電容等元器件，需要做脈沖耐壓、脈沖浪涌耐受、動態特性測試，檢驗器件在短時高壓脈沖下工作性能。HTS 50?08?UF作為高速開關，用于測試設備內部脈沖回路控制，生成標準化高壓測試脈沖施加至被測器件DUT。
高壓元器件脈沖沖擊測試，用于電容、電阻、高壓繼電器、電纜組件的脈沖耐壓篩查。設備通過HTS 50?08?UF快速接通高壓回路，輸出指定寬度脈沖，考核被測樣品抗脈沖沖擊能力。模塊輸出脈沖寬度可以通過選型選項固定在5ns?1μs區間，輸出邊沿穩定，保證每一件被測樣品承受一致的脈沖激勵，實現標準化批量測試。模塊具備故障檢測，當被測器件擊穿短路，開關可以快速識別異常狀態，輸出故障信號給到測試系統PLC，記錄失效樣品編號。
Behlke開關型號：
Behlke HTS 2000-160
Behlke HTS 05-160-F
Behlke HTS 10-70-F
Behlke HTS 20-36-F
Behlke HTS 30-12-F
Behlke HTS 140-25-F
Behlke HTS 70-50-F
Behlke HTS 150-25-F
Behlke HTS 1500-160
半導體器件動態特性測試，功率器件的雪崩特性、脈沖耐受能力測試，需要陡峭邊沿高壓脈沖激勵。分立器件搭建開關很難兼顧5kV耐壓與快速邊沿，HTS 50?08?UF集成模塊降低測試設備的硬件開發難度，設備廠商可以直接采用該模塊作為核心開關部件，縮短測試儀器研發周期。同時模塊高低壓隔離，測試系統低壓控制部分與5kV高壓回路隔離，保護采集卡、工控板等前端硬件，防止高壓串入造成設備燒毀漢達森yyds吳亞男。
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